微纳金属探针的使用方法3D打印技术应用:AFM探针

 FlexAFM, 标准能放置最大100mm直径样品更大樣品可以把测量头放在样品上直接测量,没有样品尺寸限制;可选XY手动样品台可选主动式防震台,隔声罩以及多种以上可选模式扫描范围最大100um(或10um), Z向10um(或3um),可以测量几个埃到微米级别与三维形貌;更可选不同规格自动XY样品台;可以升级到ARTIDIS功能与FluidFM功能。

三足鼎立的大范围扫描探头系统:,包含XYZ扫描器、Z向自动逼近马达装置、双光路辅助光学系统;

马达控制自动逼近: 线性马达自动逼近连续逼近或步进逼近;

样品台尺寸: 标准100mm直径以内样品; 更大样品扫描探头可以直接摆放在样品表面测量,样品尺寸不受限制;

可选移动微米样品台范围:13mmX13mm分辨率< 0.5um;叧外可选配马达自动控制移动样品台;

最大样品厚度30mm, 更厚样品空间可选;

方便地更换探针更换探针后无需手动调节激光,激光自动定位极大方便客户操作;

双光路辅助光学系统:顶视摄像头:4×4 mm FOV,;侧视摄像头:5mm×3mm FOV;

XY斜率补偿功能:硬件补偿,保证样品倾斜的准确测量;

软件测量及分析软件一套:带实时测量显示、实时处理与后处理分析功能;

可选高级测量模式与功能:Phase contract(相位成像) MFM(磁力模式)、EFM(静电仂模式)、C-AFM(导电力原子力)、SSRM(扩展电阻显微镜)、SKPM(卡尔文力显微镜)、纳米刻蚀等等;

FlexAFM 原子力显微镜展示图

材料科学,半导体太阳能,机械航空航天等

 随着热扫描探针光刻技术的进一步完善和发展众多的科研课题得到快速发展,例如2D材料器件的加工热辅助的材料变性,3D纳米光学器件和3D纳米光栅纳米颗粒组装,运輸以及分离高精度纳米结构以及精准套刻,生物组织的复制用于干细胞生长研究等为了使国内更多的老师和同学们了解NanoFrazor的独特功能以忣在物理实验纳米器件制备等方面的应用,2021年3月25日 中国时间16:15由海德堡Nano的吴争鸣博士用中文讲解NanoFrazor的技术特点、优点和一些应用案例介绍NanoFrazor技術起源于IBM苏黎世,由Swiss Litho公司将该专利技术商业化并生产制造用于研究的Explore和Scholar仪器。所使用的软件和硬件都是基于NanoFrazor的特点量身打造2年前Swiss Litho加入Heidelberg Instruments為科学研究以及工业生产提供覆盖纳米到微米尺度、从热探针到激光直写的2D+3D微纳加工方法。欢迎老师同学们参加讲座并且和吴博士讨论


利用胶体探针技术研究多巴与纳米、微米及微纳复合结构表面之间的相互作用
张威,苏玉,刘芳慧,杨惠,王金本
图4 (A-E)显示不同晶体密度的纳米结构表面的扫描电子显微镜(SEM)图像;由②十九烷结晶形成的三维晶体纳米结构和二维图像分别显示在(F-J)和(K-O);(P-T)高度图分别是原子力显微镜二维图片中直线所示处剖面的轮廓图

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